Analizador de aleación XRF de mano H500
Simplemente el mejor
El metal forma un material esencial en la fabricación moderna, los productos metálicos se utilizan en todas partes.
El uso de ED-XRF permite medir una amplia gama de elementos y concentraciones - Na(11)-U(92) - sin necesidad de preparaciones de muestras (calentar o destruir la muestra). Las muestras se pueden medir en forma de polvos sueltos o prensadas en pellets y listas para su medición en cuestión de segundos.
ED-XRF puede medir volúmenes de muestra más grandes, lo que resulta en una mejor caracterización de los productos finales y proporciona alta precisión y precisión con excelentes límites de detección (0,1 – 1 mg/kg).
La espectroscopia de fluorescencia de rayos X dispersas de energía (ED-XRF) es uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición química de varios productos finales o intermedios en la industria de los metales. ED-XRF desempeña un papel dominante en el control de calidad de los diversos procesos de la industria del metal. El análisis elemental no destructivo se puede realizar en cada paso del proceso, desde minerales hasta aleaciones terminadas.
Antecedentes e introducción
Analizador portátil de fluorescencia de rayos X (XRF), a veces conocido como una pistola XRF portátil, se utilizan para analizar la composición química de los materiales. La iluminación con rayos X hace que cada elemento fluoresce en una longitud de onda característica. Las aleaciones ESI H-500 y los analizadores XRF portátiles de metales proporcionan una química de materiales altamente específica para identificar rápida y precisamente los grados de aleación y los metales puros. Identificación de la química de la aleación y el ID de grado en segundos, desde la clasificación simple hasta las separaciones de grado desafiantes, desde la inspección de materiales entrantes hasta la verificación del producto final.
Especificaciones técnicas
Método analítico |
Fluorescencia de rayos X dispersa de energía |
PDA con pantalla táctil |
CPU: 1G, Memoria del sistema: 1G, datos estándar de almacenamiento masivo 4G, soporte máximo almacenado extendido hasta 32G, pantalla táctil LCD grande, resolución 1820x720 |
Análisis inteligente |
Modo de prueba de selección automática basado en matriz de muestras |
Fuente de excitación |
50KV/200μA – Tubo de rayos X en miniatura integrado de la ventana final Ag/Rh y fuente de alimentación de alta tensión |
Colimador & Filtro |
Colimador múltiple y filtros con funciones de conmutación automática |
Detector |
Detector de deriva de silicio (SDD) |
Resolución de detectores |
Hasta 125eV |
Estados de muestra |
Sólidos, líquidos, polvos |
Rango elemental |
Números atómicos entre 12 (Mg) y 92 (U) |
Límite de detección |
1 – 500ppm, dependiendo de la matriz de elementos y muestras |
Tiempo de análisis |
3-60 segundos |
Análisis simultáneo |
Muestra hasta 40 elementos a la vez |
Rango de visualización |
ppm – 99,99% |
Sistema de vista de muestras |
Cámara integrada de alta resolución |
Conectividad |
USB, GPS, Wi-Fi o Bluetooth |
Seguridad |
Apagado automático del tubo de rayos X, marco de instrumento forrado por Pb, niveles de radiación dentro de los estándares internacionales de seguridad |
Fuente de alimentación |
La batería recargable Li, estándar de 9000mAh, proporciona hasta 12 horas de funcionamiento con una sola carga; Adaptador universal de 110/220V para cargar |
Temperatura |
-20ºC a +50ºC |
Humedad |
≤90% |
Peso |
1,75 kg |
Aplicaciones típicas:
Identificación rápida de material positivo no destructivo (PMI)
Clasificación y verificación de chatarra
Verificación de grado de aleación
Pruebas de oro: Pureza, Quilate (Karat), Oro en aleaciones
Aleaciones aeroespaciales QA/QC
Composición de aleaciones dentales
Rendimiento de prueba del Acero Inoxidable-316
Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500 |
Muestra: |
Acero inoxidable 316 |
|||||
Tiempo de prueba: |
30 segundos |
||||||
No. de la lectura |
Curva de calibración |
Cr % |
Mn % |
Fe % |
Ni % |
Cu % |
Mo % |
1 |
Acero de alta aleación |
16.648 |
0.878 |
69.346 |
10.121 |
0.309 |
1.987 |
2 |
Acero de alta aleación |
16.688 |
0.849 |
69.356 |
10.100 |
0.325 |
1.983 |
3 |
Acero de alta aleación |
16.642 |
0.872 |
69.435 |
10.061 |
0.315 |
1.991 |
4 |
Acero de alta aleación |
16.679 |
0.918 |
69.276 |
10.102 |
0.311 |
1.975 |
5 |
Acero de alta aleación |
16.611 |
0.899 |
69.266 |
10.196 |
0.305 |
1.984 |
6 |
Acero de alta aleación |
16.652 |
0.888 |
69.422 |
10.021 |
0.304 |
1.996 |
7 |
Acero de alta aleación |
16.722 |
0.865 |
69.305 |
10.098 |
0.318 |
1.975 |
8 |
Acero de alta aleación |
16.702 |
0.836 |
69.438 |
10.037 |
0.313 |
1.988 |
9 |
Acero de alta aleación |
16.629 |
0.876 |
69.382 |
10.076 |
0.312 |
1.963 |
10 |
Acero de alta aleación |
16.642 |
0.864 |
69.388 |
10.117 |
0.302 |
1.974 |
Gamas |
0.111 |
0.082 |
0.172 |
0.175 |
0.023 |
0.032 |
|
Promedio |
16.662 |
0.874 |
69.361 |
10.093 |
0.311 |
1.982 |
|
Desviación estándar Sn |
0.0349 |
0.0236 |
0.0633 |
0.0492 |
0.0071 |
0.0096 |
|
Rsd |
0.209% |
2.694% |
0.091% |
0.488% |
2.276% |
0.486% |
Rendimiento de prueba de la precisión SS304 con H500:
10 segundos de precisión de medición de los principales elementos en acero inoxidable 304
Cr |
Mn |
Ni |
Cu |
Mo |
|
Promedio |
18.232 |
0.926 |
8.072 |
1.236 |
0.288 |
Valor certificado |
17.940 |
0.980 |
8.180 |
1.230 |
0.298 |
Desviación estándar |
0.072 |
0.055 |
0.086 |
0.043 |
0.008 |
RSD(%) |
0.395 |
5.936 |
1.067 |
3.506 |
2.693 |
Precisión (%) |
98.370 |
94.486 |
98.681 |
99.510 |
96.574 |
El siguiente es el espectro de estándares de acero inoxidable con un contenido de Ni de sólo 0,108%.。
¿Qué es la fluorescencia de rayos X?
Cuando la radiografía de excitación primaria emitida desde el tubo de rayos X colisiona con una muestra, se dispersará por una radiografía absorbida a un átomo o penetrada a través de la sustancia. El efecto fotoeléctrico se refiere a un proceso cuando la radiografía transfiere toda la energía a la parte más profunda y es absorbida por un átomo. En este proceso, si la radiografía primaria tiene suficiente energía, el electrón sobresale desde dentro para crear espacio. Este espacio vacío se refiere a la inestabilidad del átomo.
Atom siempre intenta volver al estado estable; por lo tanto, el electrón exterior se transferirá al lado interno y en este proceso, se emite una energía x-ray específica. Cada átomo tiene la serie de niveles de energía para emitir la radiografía específica.
Esta emisión de rayos X se denomina "Fluorescencia de rayos X (XRF)" y la composición del átomo en una muestra mediante el uso de esta propiedad se puede medir a través de una prueba no destructiva
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